किरणों और फ़ोकस किए गए बिंदुओं के ऑप्टिकल प्राचलों का विश्लेषण और मापन करने वाला एक मापन विश्लेषक। इसमें एक ऑप्टिकल पॉइंटिंग यूनिट, एक ऑप्टिकल एटेन्यूएशन यूनिट, एक हीट ट्रीटमेंट यूनिट और एक ऑप्टिकल इमेजिंग यूनिट शामिल है। यह सॉफ़्टवेयर विश्लेषण क्षमताओं से भी लैस है और परीक्षण रिपोर्ट प्रदान करता है।
(1) फोकस रेंज की गहराई के भीतर विभिन्न संकेतकों (ऊर्जा वितरण, पीक पावर, अण्डाकारता, एम2, स्पॉट आकार) का गतिशील विश्लेषण;
(2) यूवी से आईआर तक विस्तृत तरंगदैर्ध्य प्रतिक्रिया रेंज (190एनएम-1550एनएम);
(3) बहु-स्पॉट, मात्रात्मक, संचालित करने में आसान;
(4) 500W औसत शक्ति तक उच्च क्षति सीमा;
(5) 2.2um तक अल्ट्रा हाई रिज़ॉल्यूशन.
एकल-बीम या बहु-बीम और बीम फ़ोकसिंग पैरामीटर माप के लिए।
नमूना | एफएसए500 |
तरंगदैर्ध्य(एनएम) | 300-1100 |
NA | ≤0.13 |
प्रवेश पुतली स्थिति स्थान व्यास (मिमी) | ≤17 |
औसत शक्ति(डब्ल्यू) | 1-500 |
प्रकाश संवेदनशील आकार (मिमी) | 5.7x4.3 |
मापने योग्य स्पॉट व्यास (मिमी) | 0.02-4.3 |
फ्रेम दर(एफपीएस) | 14 |
योजक | यूएसबी 3.0 |
परीक्षण योग्य किरण की तरंगदैर्ध्य सीमा 300-1100nm है, औसत किरण शक्ति सीमा 1-500W है, तथा मापे जाने वाले फोकसित स्थान का व्यास न्यूनतम 20μm से 4.3 मिमी तक है।
उपयोग के दौरान, उपयोगकर्ता सर्वोत्तम परीक्षण स्थिति खोजने के लिए मॉड्यूल या प्रकाश स्रोत को स्थानांतरित करता है, और फिर डेटा मापन और विश्लेषण के लिए सिस्टम के अंतर्निहित सॉफ़्टवेयर का उपयोग करता है।यह सॉफ़्टवेयर प्रकाश बिन्दु के अनुप्रस्थ काट का द्वि-आयामी या त्रि-आयामी तीव्रता वितरण फिटिंग आरेख प्रदर्शित कर सकता है, और द्वि-आयामी दिशा में प्रकाश बिन्दु के आकार, अण्डाकारता, सापेक्ष स्थिति और तीव्रता जैसे मात्रात्मक डेटा भी प्रदर्शित कर सकता है। साथ ही, बीम M2 को मैन्युअल रूप से मापा जा सकता है।