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कार्मनहास लेज़र अंकन प्रणाली का उपयोग सभी अपारदर्शी पदार्थों के अंकन के लिए किया जा सकता है। सामान्य प्रकाशीय प्रणाली: विचलन कोण में सुधार के लिए बीम विस्तारक के माध्यम से बीम का विस्तार किया जाता है, और बीम विक्षेपण और स्कैनिंग के लिए गैल्वेनोमीटर प्रणाली में सूचक प्रकाश को संयोजित करने के बाद, अंत में, वर्कपीस को F-THETA स्कैन लेंस द्वारा स्कैन और फ़ोकस किया जाता है।
एफ-थीटा स्कैन लेंस का उपयोग गैल्वेनोमीटर स्कैनिंग का लाभ उठाने के लिए व्यापक रूप से किया जाता है। कारमन हास लेज़र मार्किंग का उपयोग सभी अपारदर्शी पदार्थों के मार्किंग के लिए किया जा सकता है। सामान्य प्रकाशिक प्रणाली: विचलन कोण में सुधार के लिए बीम एक्सपैंडर के माध्यम से बीम का विस्तार किया जाता है। बीम विक्षेपण और स्कैनिंग के लिए गैल्वेनोमीटर प्रणाली में सूचक प्रकाश को संयोजित करने के बाद, अंत में, कार्य-वस्तु को एफ-थीटा स्कैन लेंस द्वारा स्कैन और फ़ोकस किया जाता है। एफ-थीटा स्कैन लेंस लेज़र बीम का एकसमान फ़ोकस प्राप्त करते हैं।
लेज़र मार्किंग ऑप्टिकल घटकों में मुख्य रूप से बीम एक्सपैंडर और F-थीटा स्कैन लेंस शामिल हैं। बीम एक्सपैंडर का कार्य बीम व्यास को बड़ा करना और बीम डाइवर्जेंस कोण को कम करना है। F-थीटा स्कैन लेंस लेज़र बीम का एकसमान फ़ोकसिंग प्राप्त करता है। इनका व्यापक रूप से ड्रिलिंग और मार्किंग क्षेत्रों में उपयोग किया जाता है।